Kontakt: pok. 275
ul. Oleska 48, 45-052 Opole
tel. (077) 4527285
e-mail:jerzy.dryzek@ifj.edu.pl

Moja praca naukowa od kilkunastu lat koncentruje się głownie na badaniach mikrostruktury materiałów za pomocą metod anihilacji pozytonów. Wszechstronność tej metody pomiarowej daje duży potencjał możliwości badawczych. Dzięki właściwościom pozytonu i jego specyficznemu zachowaniu się w materii metoda anihilacji pozytonów znajduje bardzo szerokie zastosowania. To nie tylko pomiary rozkładów pędów elektronów i kształtu powierzchni Fermiego, ale badania stanu zdefektowania sieci krystalicznej i najbliższego otoczenia takich defektów, pomiary objętości swobodnych w materiałach polimerowych, czy rozmiarów nano-porów w materiałach porowatych.

Moje zainteresowania jako eksperymentatora od kilku już lat koncentrują się na wykorzystaniu metod anihilacji pozytonów w poznaniu stanu zdefektowania warstw wierzchnich powstałych w wyniku ścierania oraz innych technologicznych procesów towarzyszących obróbce powierzchni.

Obok intensywnie prowadzonych pomiarów czasów życia pozytonów i poszerzenia dopplerowskiego linii anihilacyjnej interesują mnie podstawy teoretyczne tej metody. Kilka lat temu badałem proces wychwytu pozytonów przez defekty typu wakancja, czy dyfuzję pozytonów i jej wpływ na mierzone charakterystyki anihilacyjne. Obecnie z użyciem programów EGS 4 nrs i GEANT4 prowadzimy symulacje komputerowe procesu implantacji pozytonów wskazując na interesujące zjawiska jakie mu towarzyszą.

Jestem autorem dwóch książek poświęconych tematyce anihilacji pozytonów: pierwsza pt. " Wstęp do spektroskopii anihilacji pozytonów w ciele stałym " i druga pt. " Charakterystyki procesu anihilacji pozytonów w fazie skondensowanej " .